Фотоника #5/2016
А.Магунов, Б.Лапшинов
Экспериментальное определение температурной зависимости показателя преломления полупроводниковых материалов
Приведены экспериментальные результаты определения температурной зависимости показателя преломления n(T) ряда широкозонных полупроводниковых материалов. Эти значения являются необходимым условием для внедрения и использования лазерной интерференционной термометрии в технологических процессах и научных исследованиях. DOI:10.22184/1993-7296.2016.59.5.62.74