sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "надежность"
Электроника НТБ #4/2024
А. Дудунов
ИСПОЛЬЗОВАНИЕ ЭКБ С ИСТЕКШИМ СРОКОМ ХРАНЕНИЯ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.235.4.146.148 В связи с тем, что производство и ввод в эксплуатацию военной техники занимает значительное время, возникает проблема использования электронной компонентной базы, снятой с производства в процессе проектирования изделия. Для решения данной проблемы проводятся исследования по оценке возможности продления показателей сохраняемости ЭКБ.
Электроника НТБ #3/2024
Ю. Капшунова, С. Колочков
КОНТАКТИРУЮЩИЕ УСТРОЙСТВА ДЛЯ ТЕСТИРОВАНИЯ И ИСПЫТАНИЙ ЭКБ – НАДЕЖНЫЕ РЕШЕНИЯ ОТ КОМПАНИИ «АЙСИ СОКЕТ»
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.234.3.128.130 Компания «АйСи Сокет» является одним из ведущих разработчиков и производителей высококачественных контактирующих устройств для тестирования и испытаний микросхем.
Электроника НТБ #2/2024
А. Строгонов
МЕТОДЫ ПРОГНОЗИРОВАНИЯ ДОЛГОВЕЧНОСТИ ИС ПО ПАРАМЕТРИЧЕСКИМ ОТКАЗАМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2024.233.2.88.96 В статье рассмотрены основные методологические подходы, принятые в зарубежной и отечественной инженерных школах в области прогнозирования долговечности ИС по параметрическим отказам.
Электроника НТБ #8/2023
С. Назаров, А. Барсуков
НАДЕЖНОСТЬ И БЕЗОПАСНОСТЬ ОПЕРАЦИОННЫХ СИСТЕМ РАЗЛИЧНОЙ АРХИТЕКТУРЫ. ЧАСТЬ 1
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.229.8.88.96 Введение санкций переориентировало российскую экономику на использование отечественных программных продуктов, в том числе и операционных систем (ОС). В данной статье предлагаются модели ОС различной архитектуры, основанные на теории марковских процессов, описываемых дифференциальными уравнениями Колмогорова.
Электроника НТБ #6/2023
Ш. Шугаепов, Е. Ермолаев, В. Егошин, Е. Сабирова
СТОЙКОСТЬ К ВНЕШНИМ ВОЗДЕЙСТВИЯМ И НАДЕЖНОСТЬ МЕТАЛЛОКЕРАМИЧЕСКИХ КОРПУСОВ
DOI: 10.22184/1992-4178.2023.227.6.42.43 Рассмотрена надежность и стойкость к внешним воздействиям металлокерамических корпусов, выпускаемых АО «Завод полупроводниковых приборов» (АО «ЗПП»). Отмечено, что эти корпуса соответствуют всем требованиям к надежности и стойкости к внешним воздействующим факторам.
Электроника НТБ #8/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
ОТЕЧЕСТВЕННЫЕ СТЕНДЫ «СИТ» ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ ЭКБ НА НАДЕЖНОСТЬ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.122.126 Описывается проект по созданию линейки стендов для термоэлектротренировки и испытаний на сохранение работоспособности ЭКБ при воздействии повышенных температур и при собственном перегреве при предельных режимах электрической нагрузки. Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемого оборудования.
Электроника НТБ #8/2022
Д. Красовицкий, А. Филаретов, В. Чалый
НИТРИДНАЯ МОЩНАЯ СВЧ-ЭЛЕКТРОНИКА В РОССИИ: НАУКА ПЕРЕХОДА ОТ ТЕХНОЛОГИИ К БИЗНЕСУ
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.219.8.68.74 Обсуждается проблематика внедрения в массовое производство отечественных разработок мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия. Рассмотрены основные задачи, решение которых необходимо для восполнения дефицита мощной СВЧ ЭКБ на основе нитрида галлия в условиях усилившегося санкционного давления на радиоэлектронную отрасль.
Электроника НТБ #5/2022
П. Пармон, А. Панченко, К. Еремченко
УСТАНОВКА ДЛЯ ИСПЫТАНИЙ НА ТЕПЛОВОЙ УДАР «АКТУ‑001»
DOI: 10.22184/1992-4178.2022.216.5.78.82 Рассматривается проект по созданию автоматической камеры для испытаний полупроводниковых приборов и интегральных микросхем на тепловой удар, выполняемый АО «НИИЭТ». Обосновывается актуальность данной разработки, приводятся технические характеристики и преимущества разрабатываемой установки перед зарубежными аналогами.
Электроника НТБ #10/2020
Д.Красовицкий, А.Филаретов, В.Чалый
НИТРИДНАЯ СВЧ-ЭЛЕКТРОНИКА В РОССИИ: ЕСЛИ ЕЩЕ ПОДОЖДАТЬ, УЖЕ НЕ ДОГОНИМ
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.201.10.94.99 К числу наиболее острых проблем импортозамещения, решаемых отечественными создателями конкурентоспособной СВЧ-электроники, относится вывод на производственный уровень перспективных, но так и не освоенных в России разработок электронной компонентной базы на основе широкозонных полупроводников группы GaN.
Электроника НТБ #6/2020
А. Чиминёв
Печатная плата – ключевой компонент, определяющий надежность конечного продукта
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.197.6.42.46 Рассматривается ряд факторов, определяющих надежность печатных плат, связанных с дизайном, материалами, процессом изготовления, контролем и испытаниями и предъявляемыми к изделию требованиями. Приводятся не‑ которые особенности требований к печатным платам стандартов IPC в зависи‑ мости от класса изделия, а также альтернативные и дополнительные требова‑ ния компании NCAB.
1
2 3 4
Разработка: студия Green Art