sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "конфокальная микроскопия"
Фотоника #4/2013
К. Хансен
"Белые" лазеры "суперконтинуум" – широкополосные лазеры для получения изображений биологических объекттов
Лазеры белого света, подобные лазеру SuperK Extreme производства компании NKT Photonics, сочетают широкополосное излучение, мощность и надежность волоконного лазера. Путем оптимального возбуждения красителя можно получать любую длину волны в диапазоне от 400 до 2400 нм. Кроме того, импульсы лазера небольшой длительности позволяют легко измерять продолжительность флуоресценсии. Сегодня лазеры "cуперконтинуум" применяются в разнообразных технологиях получения изображений биологических объектов, в том числе в оптической когерентной томографии (ОКТ), конфокальной микроскопии, флуоресцентной микроскопии в реальном времени (FLIM), в передаче энергии посредством флуоресцентного резонанса (FRET) и оптической микроскопии.
Наноиндустрия #4/2011
М.Вебер
Конфокальная микроскопия микро- и наноструктурированных поверхностей материалов
Один из ключевых моментов материаловедения – получение подробной информации о поверхности. Уже недостаточно двухмерной профилометрии на основе параметров шероховатости – требуется комплексное трехмерное описание топографии, включающее нестатические характеристики. Конфокальная микроскопия (КМ) имеет серьезные преимущества в плане бесконтактного и оперативного получения таких параметров. Именно этот метод обеспечивает описание детерминированных и недетерминированных структур поверхности.
Разработка: студия Green Art