Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Статьи

Фотоника #1/2025

Фотоника #8/2024

Новости // все новости

30.04.2025

29.04.2025

Тег "метрологическое обеспечение"

Электроника НТБ #2/2019
А. Кривов, Е. Смирнова, К. Бондин, П. Николаев
Необходимость межлабораторных сличений в современной метрологии

В практике метрологического обеспечения электронных производств все большее значение приобретает такая технология достижения и поддержания требуемой точности промышленных измерений, как межлабораторные сравнительные испытания (МСИ). В статье рассмотрены вопросы реализации требований действующих стандартов в части, относящейся к МСИ, и приведены краткие сведения о пилотном проекте по МСИ результатов калибровки и поверки электроизмерительных приборов, выполненном компанией «Диполь». УДК 006.91:621.317.089.6 | ВАК 05.11.15 DOI: 10.22184/1992-4178.2019.183.2.58.63

Станкоинструмент #4/2017
Г. Нуждин, М. Анисимова, Д. Благовещенский
Метрологическое обеспечение инструментального производства

Показано, что в инструментальном производстве может оказаться недостаточно внедрения только требований ГОСТ Р 51672 к метрологическому обеспечению испытаний инструмента. На примере производства ПАО «МИЗ» продемонстрирована целесообразность применения требований ГОСТ Р 8.563 в дополнение к внедренным. DOI: 10.22184/24999407.2017.9.4.58.60

Наноиндустрия #1/2012
K.Gogolinskiy, A.Useinov, A.Kuznetsov, V.Reshetov, S.Golubev
Метрологическое обеспечение измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне

В работе обсуждается задача обеспечения прослеживаемости измерений линейных размеров в нанометровом диапазоне сканирующей зондовой микроскопией (СЗМ) к первичному эталону метра. Описывается сканирующий зондовый микроскоп "НаноСкан-3Di" с интегрированным трехкоординатным лазерным гетеродинным интерферометром. Рассмотрены особенности применения сверхострых алмазных наконечников для получения профиля поверхности методами СЗМ в сравнении со стандартными кремниевыми кантилеверами.

Наноиндустрия #4/2011
В.Иванов, Ю.Токунов
Метрологическое обеспечение производственных компаний наноиндустрии

Удовлетворение потребностей работающих в наноиндустрии компаний в метрологическом обеспечении – важное условие выпуска конкурентоспособной, безопасной продукции и снижения барьеров при ее выводе на рынки. РОСНАНО формирует систему метрологического обеспечения. Для исполнения сервисных функций этой системы в 2010 году создана дочерняя компания – Метрологический центр РОСНАНО, интегрировавшая компетенции сертификационного центра компании.

← 1

2