Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Тег "nondestructive testing"

Фотоника #4/2018
М. А. Симонов
Волоконно-оптическая система мониторинга технического состояния объектов промышленности

Статья знакомит с продукцией предприятия ООО ИП "НЦВО-Фотоника", разработанной и выпускаемой в компании для неразрушающего контроля состояния сложных технических объектов на опасных промышленных предприятиях. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.72.4.414.416

Фотоника #2/2013
M. Фарьер, Т. Эщеркирхен, Г. Векслер, А. Мрожек
Широкоформатные кмоп-сенсоры с активными пикселами для цифровой рентгенографии

Существуют приборы, для которых малые размеры пиксела вовсе не являются необходимым условием успешной работы. КМОП-сенсоры с активным пикселом разработаны для устройств, связанных с регистрацией рентгеновского излучения, в том числе в медицине, в промышленном неразрушающем контроле и рентгеновской кристаллографии. Такие преимущества, как низкий шум считывания (менее 300 электронов), низкий темновой ток, гибкость в реализации КМОП-схемотехники и снижение производственных затрат, повышают конкурентоспособность этих сенсоров.

Наноиндустрия #3/2012
В.Костюченко
Акустическая микроскопия: выявление скрытых дефектов в микроэлектронике

Важным преимуществом акустической микроскопии является ее способность обнаруживать скрытые дефекты в образцах, которые могут возникнуть в процессе производства. При использовании акустической микроскопии анализ и выявление дефектов, таких как расслоения, пустоты и трещины становится более эффективным, чем при любом другом методе проверки. В представленной статье читатели смогут познакомиться с акустической микроскопией, получить представление о принципе ее работы, а также о методиках поиска дефектов с помощью этого метода.