Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Тег "контроль параметров"

Фотоника #1/2020
В. Л. Минаев, Г. Н. Вишняков, А. Д. Иванов, Г. Г. Левин
Методы контроля геометрических параметров и внутренних напряжений изделий аддитивных технологий

DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2020.14.1.42.54 Созданию измерительных систем для аддитивных процессов препятствует проблема отсутствия систем диагностики и контроля изготавливаемых изделий. Качество деталей, полученных методами аддитивных технологий, сильно варьируется из-за неадекватных допусков размеров, шероховатости поверхности, а также дефектов и наличия полей механических напряжений. Это приводит к тому, что малейшие отклонения внешних условий, возникающие в процессе изготовления, могут вызвать несоответствие конечного изделия по форме или свойствам. Измерительная система должна иметь потенциальную возможность быть встроенной в единый производственный комплекс. Это связано с тем, что результат измерений геометрических параметров конкретных изделий необходимо сравнить с математической моделью, разработанной в CAD-системе, а измерения дефектов, скрытых напряжений, структуры изделий должны быть переданы в CAE-систему для принятия решения о годности изделия или разработки алгоритма и технологии его дальнейшей обработки. Для контроля параметров изделий аддитивных технологий предложена система на базе методов структурированного света и шерографии.