Фотоника #7/2019
В. В. Григорьев, В. Е. Кравцов, А. К. Митюрев, Е. А. Науменко, А. О. Погонышев, К. Б. Савкин, С. В. Тихомиров
Особенности метрологического обеспечения оптических рефлектометров
DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.676.679 В статье представлены результаты исследовательских работ, направленных на обеспечение единства измерений параметров оптических рефлектометров. Описываются эталонная база и нормативно-техническая документация, созданные специалистами ВНИИОФИ. Рассматриваются результаты внедрения и применения созданных эталонов. Также приводятся результаты исследований методов калибровки нового перспективного класса оптических рефлектометров, работающих в частотной области.
Фотоника #7/2019
М. В. Канзюба
Метрологическое обеспечение измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне
DOI: 10.22184/1992-7296.FRos.2019.13.7.670.675 Прецизионная обработка материалов, техника лазерной дальнометрии и медицины используют пикосекундные импульсные лазерные системы. Это требует создания средств измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения. В статье представлены результаты деятельности ВНИИОФИ в области метрологического обеспечения измерений временных характеристик импульсного лазерного излучения в пикосекундном диапазоне.