Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега - метрологическое обеспечение изделий

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Тег "метрологическое обеспечение изделий"

Фотоника #6/2019
Г.Н. Вишняков, Г.Г. Левин, В.Л. Минаев, А. Д.Иванов
Аппаратура для диагностики параметров изделий аддитивных технологий

В статье представлен комплекс аппаратуры, разработанный для диагностики параметров изделий, выполненных с помощью аддитивных технологий. Комплекс включает в себя интерференционный микроскоп, 3D‑камеру, 3D‑сканер и электронный спекл-интерферометр, а также метрологическое обеспечение к этим приборам в виде мер и методик измерений. Преимущество разработанного решения состоит в возможности имитации деформации поверхности с различными физическими свойствами и характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.FRos.2019.13.6.544.547