Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Статьи

Фотоника #1/2025

Фотоника #8/2024

Новости // все новости

30.04.2025

29.04.2025

Тег "raman spectroscopy"

Аналитика #2/2015
К.Понкратов
Контроль качества лекарственных препаратов с помощью рамановского спектрометра Renishaw inVia

В 2020 году в России будут производить каждое второе лекарство из тех, что продается в нашей стране, — такую цель поставило перед фармацевтическим рынком Министерство промышленности и торговли. Пока программа импортозамещения не достигла столь значимых результатов: сейчас зарубежные препараты занимают около 80%. Для того чтобы наладить производство в соответствии с требованиями GMP, необходимо создать соответствующие условия. Важнейшая стадия производственного цикла – контроль качества продукции. И здесь незаменим не требующий пробоподготовки неконтактный и неразрушающий метод рамановской спектроскопии. Рамановский эффект высоко чувствителен к небольшим различиям химического состава и кристаллографической структуры.

Наноиндустрия #7/2013
Th.Dieingv
Конфокальная рамановская 3D-визуализация высокого разрешения нитридов III группы

Требования к надежности электронных компонентов высоки, потому важно получение детальных сведений о свойствах кристаллических структур полупроводниковых материалов. Обычно для определения толщины пленок, параметров кристаллической решетки и испытаний деформированных состояний слоистых структур применяется рентгеновская дифракция, а для исследования поверхностей и дефектов конструкции, позволяющих установить хронологию роста кристаллов, – растровая электронная микроскопия. В статье представлены результаты исследований методом конфокальной рамановской 3D-визуализации, который позволяет выявлять деформацию и изменения в структуре кристаллической решетки.

Аналитика #5/2013
К. Понкратов
Исследование полупроводниковых материалов методом конфокальной рамановской микроскопии

Компания Renishaw (Великобритания) – мировой лидер в области промышленной метрологии, контроля перемещений, спектроскопии и прецизионной обработки. Конфокальный рамановский микроскоп inVia, выпускаемый компанией, объединяет в себе все новейшие технологии в полном соответствии с девизом компании – Apply Innovation. В статье приводятся примеры использования микроскопа для исследований качества пластин полупроводников.

Фотоника #6/2011
Г.Фишер
Визуализация химического картирования: конфокальная микроскопия комбинационного рассеяния

В статье продемонстрирована возможность получения изображения химического состава живых человеческих клеток, бактерий и лекарственных покрытий с помощью неразрушающей конфокальной рамановской микроскопии. Приведено подробное описание этой технологии и рассмотрены возможности ее применения.

← 1

2