Фотоника - научно-технический журнал - Материалы тега - матрица ориентации измерительных осей

главная

eng

Вход

Архив журнала

Журналы

Медиаданные

Редакционная политика

Авторам

Контакты

© 2001-2024
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

R&W

ISSN 1993-7296 (print)
ISSN 2686-844X (online)

Книги по фотонике

Тег "матрица ориентации измерительных осей"

Фотоника #3/2018
Т. С. Лисовский
Современные методы измерения оптических характеристик тонкопленочных покрытий

Представлены результаты новейших разработок в области метрологического обеспечения измерений оптических характеристик тонкопленочных покрытий в широком диапазоне электромагнитного спектра от 185 нм до 5200 нм. Показаны технические решения для проведения автоматических измерений коэффициентов пропускания и абсолютного зеркального отражения плоскопараллельных деталей и призм. Представлены результаты реальных измерений покрытий с предельными характеристиками. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.346.351

Фотоника #3/2018
Ю. Ю. Колбас, А. Г. Зубов, Л. В. Еремин
Исследование стабильности углов ориентации измерительных осей акселерометров в инерциальном измерительном блоке

Рассмотрены зависимости матрицы ориентации измерительных осей акселерометров в инерциальном измерительном блоке (ИИБ) от температуры и механических ударных и вибрационных воздействий. Показано, что при отдельном расположении гироскопов и акселерометров не возникает дополнительных ошибок ориентации их измерительных осей после вибрации и ударов. DOI: 10.22184/1993-7296.2018.71.3.352.363