sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "metrology"
Станкоинструмент #4/2024
В. И. Пронякин, А. С. Комшин
Качество изделий машиностроения и метрологическое обеспечение оценки соответствия продукции в производстве
DOI: 10.22184/2499-9407.2024.37.4.68.76 Рассмотрены вопросы обеспечения качества продукции в отечественном машиностроении, связанные с метрологическим обеспечением оценки соответствия продукции в производстве. Показаны сферы деятельности метрологии. Проведен анализ реализации метрологического обеспечения производства в ЕСТПП, ЕСТД. Анализируется производственная структура предприятия. Предложен подход к решению изложенных проблем метрологического обеспечения технологических процессов.
Электроника НТБ #2/2020
М. Макушин, В. Мартынов
Некоторые проблемы современной метрологии в микроэлектронике
DOI: 10.22184/1992-4178.2020.193.2.80.91 По мере масштабирования ИС и освоения 3D-структур усложняются средства метрологии и контроля. Важную роль в дальнейшем их развитии и совершенствовании играют искусственный интеллект, машинное обучение и совершенствование вычислительных технологий.
Наноиндустрия #6/2016
А.Потемкин
Обеспечение метрологической ответственности измерения перемещения в нанометровом диапазоне
Измерительный метрологический набор на основе динамической меры – технологически сложный и наукоемкий продукт, многократно превосходящий решения на основе пьезокерамики. Динамические калибры позволяют обеспечить опережающее развитие метрологии по сравнению с разрабатываемыми нанотехнологиями. DOI:10.22184/1993-8578.2016.68.6.60.68
Наноиндустрия #4/2016
А.Ахметова, Г.Мешков, О.Синицына, И.Яминский
Метрологическое обеспечение в бионаноскопии
Сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ) успешно переходит из научно-исследовательской области в сектор реальных производственных технологий. В связи с этим существенно повышается роль метрологического сопровождения инструментария СЗМ. DOI:10.22184/1993-8578.2016.66.4.36.39
Станкоинструмент #1/2016
М.Киселев
К вопросу о подготовке метрологов
В статье дан исторический экскурс и представлено современное состоя­ние подготовки инженеров­метрологов для отечественной промышленности. На примерах из отечественной истории прослеживается органичная связь уровня фундаментальных научных исследований, образования с возможностью кадрового обеспечения прорывных решений в области метрологии и измерительной техники.
Фотоника #1/2014
В.Суханов, В.Забродский, П.Аруев, Е.Шерстнев, П.Втулкин, С.Марченко
Исследование характеристик фотоприемного устройства для денситометрического комплекса
Решение задач метрологического обеспечения измерений оптической плотности опирается на создание разных технических средств. Среди них – денситометрические комплексы и стандартные образцы оптической плотности материалов. Но сердцем этих устройств по-прежнему остается фотоприемное устройство.
Фотоника #1/2013
С.Бутяйкин
NanoRam – раман-спектрометр для фармацевтической и пищевой промышленности
Портативный прибор комбинационного рассеяния NanoRam компании B&WTek обладает чрезвычайно высокой молекулярной избирательностью. Он прекрасно подходит для разнообразных фармацевтических приложений – тестирования сырья, проверки готовой продукции, выявления поддельных лекарств. Изложены основы метрологического обеспечения измерений состава вещества спектрометром NanoRam.
Наноиндустрия #8/2012
С.Голубев, В.Захарьин, Г.Мешков, Ю.Токунов, Д.Яминский, И.Яминский
Калибровка зондовых микроскопов. Динамическая мера "нанометр"
Динамическая мера "нанометр" – удобное средство измерений. Она позволяет осуществить калибровку СЗМ до начала и в процессе измерений. Предложены методика калибровки СЗМ и алгоритм статистической обработки данных.
Фотоника #4/2010
М.Макушин, В.Мартынов.
Нужен ли России самодельный EUV-нанолитограф?! Техника и экономика современной литографии
В журнале "Фотоника" 2010, №1 была опубликована статья "EUV-нанолитография. Проблемы и перспективы развития" В.Анчуткина, А.Бельского, О.Гущина. Другие авторы, признанные российские эксперты, излагают свою точку зрения на экономические и технологические аспекты развития литографии. С учетом знания реального уровня развития технологий и стратегиче­ских задач отече­ственной микроэлектроники они обсуждают вопрос: какая литография нужна россий­ской электронике?
Разработка: студия Green Art