sitemap
Наш сайт использует cookies. Продолжая просмотр, вы даёте согласие на обработку персональных данных и соглашаетесь с нашей Политикой Конфиденциальности
Согласен
Поиск:

Вход
Архив журнала
Журналы
Медиаданные
Редакционная политика
Реклама
Авторам
Контакты
TS_pub
technospheramag
technospheramag
ТЕХНОСФЕРА_РИЦ
© 2001-2025
РИЦ Техносфера
Все права защищены
Тел. +7 (495) 234-0110
Оферта

Яндекс.Метрика
R&W
 
 
Вход:

Ваш e-mail:
Пароль:
 
Регистрация
Забыли пароль?
Книги по фотонике
Урик Винсент Дж.-мл., МакКинни Джейсон Д., Вилльямс Кейт Дж.
Другие серии книг:
Мир фотоники
Библиотека Института стратегий развития
Мир квантовых технологий
Мир математики
Мир физики и техники
Мир биологии и медицины
Мир химии
Мир наук о Земле
Мир материалов и технологий
Мир электроники
Мир программирования
Мир связи
Мир строительства
Мир цифровой обработки
Мир экономики
Мир дизайна
Мир увлечений
Мир робототехники и мехатроники
Для кофейников
Мир радиоэлектроники
Библиотечка «КВАНТ»
Умный дом
Мировые бренды
Вне серий
Библиотека климатехника
Мир транспорта
Мир станкостроения
Мир метрологии
Мир энергетики
Книги, изданные при поддержке РФФИ
Тег "вч-разряд"
Фотоника #5/2017
А.Р.Гильдина, П.А.Михеев, А.К.Чернышов, Н.И.Уфимцев, В.Н.Азязов
Коэффициенты столкновительного уширения линий аргона и криптона в низкотемпературной плазме
Описаны измерения коэффициентов столкновительного уширения для линий перехода ( n + 1 ) s [ 3 / 2 ]2 → ( n + 1 ) p [ 5 / 2 ]3 криптона и аргона в низкотемпературной плазме ВЧ-разряда. Эти данные необходимы для диагностики активной среды перспективных лазеров на инертных газах с оптической накачкой. DOI: 10.22184/1993-7296.2017.65.5.44.51
Разработка: студия Green Art