eng
Просмотры: 2063
12.09.2024
10 сентября 2024 года не менее динамично прошел второй день работы Предконференции №1 юбилейного форума «Микроэлектроника 2024», которая традиционно проводится на базе Консорциума НИЯУ МИФИ – АО «ЭНПО СПЭЛС.
Тематика Предконференции №1 охватывает широкий круг вопросов разработки, применения ЭКБ и радиоэлектронной аппаратуры, радиоэлектронных устройств и программно-аппаратных комплексов (ПАК) для ответственного применения, в том числе в объектах критической информационной и другой гражданской инфраструктуры.
В ходе второго дня Предконференции № 1 осуществляли свою работу два тематических блока: «Приемопередающая ЭКБ и РЭА: маршруты разработки и технологии производства» (модератор – Николай Усачёв, к.т.н.) и «Технологическое и контрольно-измерительное оборудование» (модератор – Дмитрий Бобровский, к.т.н.).
В рамках блока «Приемопередающая ЭКБ и РЭА: маршруты разработки и технологии производства» вводный доклад Николая Усачёва (НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС») был посвящен анализу рынка микроэлектроники и востребованным технологическим процессам. Было показано, что технологии КМОП 250…90 нм могут быть широко востребованы для создания устройств промышленного интернета вещей, цифровой маркировки, в том числе доверенного назначения. Также был представлен научно-технический задел дизайн-центра АО «ЭНПО СПЭЛС» по данному направлению.
Алексей Будяков (ООО «ИнноЦентр ВАО») рассказал про применение подхода к разработке простейших электронных схем с использованием доступных больших языковых моделей (БЯМ). Было показано, что БЯМ могут значительно повысить эффективность разработки ЭКБ и РЭА, но при этом допускают многочисленные ошибки и пока могут быть помощником инженера, но не заменить его. Учитывая стремительное развитие технологий искусственного интеллекта материалы доклада являются актуальными, что подтвердила живая дискуссия.
Александр Жариков (НИЯУ МИФИ) представил доклад о разработках в области автомобильной электроники, а именно системы управления подушками безопасности и телематической платформы с поддержкой V2X. Также он указал на возможности применения отечественной ЭКБ в подобных изделиях и рассмотрел некоторые вопросы обеспечения кибербезопасности встраиваемых систем.
Доклады представителей НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС» – Дениса Сотскова, Владислава Котова, Александра Ермакова, Анны Землеруб, Константина Амбуркина были посвящены аспектам разработки и тестирования ЭКБ для радиочастотной идентификации, в том числе о проектировании аналогового тракта и организации питания меток, разработке КМОП СБИС приемопередатчика считывателя меток диапазона УВЧ, а также о проектировании тестовой оснастки (проб-карты) данной СБИС.
Живое обсуждение вызвал доклад Алексея Попова (Донской государственный технический университет), который поднял вопрос востребованности аналоговых базовых матричных кристаллов в качестве платформы быстрой разработки импортозамещающих аналоговых ИМС.
Доклады Михаила Черкашина и Артёма Коряковцева (ТУСУР) были посвящены разработке СВЧ ЭКБ, были подготовлены и представлены на высоком техническом уровне.
Актуальным для слушателей был доклад Сергея Яна (АО «Светлана-Полупроводники»), посвященный созданию отечественного RISC-процессора, ориентированного для изготовления по технологии КМОП 350 нм.
Блок «Технологического и контрольно-измерительного оборудования» открыли два системообразующих доклада АО «МНТЦ МИЭТ», раскрывающие потребность комплексной программы электронного машиностроения в части оборудования (Яков Петренко) и функциональных материалов (к.ф.-м.н. Вадим Ежлов).
Денис Веселов представил намерения ООО «Нанотроника» (входит в ГК «Элемент») выступить лидером в организации серийного производства технологического оборудования.
В докладах представителей двух предприятий-исполнителей ОКР по разработке оборудования для электронного машиностроения (к.т.н. Дмитрий Бобровский, АО «ЭНПО СПЭЛС» и Андрей Писаренко, АО «НИИП») представлен успешный опыт выполнения этапов ОКР. Коллеги обозначили болевые вопросы применения отечественных комплектующих в своих разработках, призвав разработчиков комплектующих не бояться вносить свою продукцию в каталоги, хотя бы уровня «Каталог продукции ГИСП» без получения заключения Минпромторга России.
Безусловно, в блоке по оборудованию невозможно было бы обойти стороной вопросы практического применения систем машинного зрения, в частности для визуального контроля дефектов кристаллов. В своем докладе Артем Цирков (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ –АО «ЭНПО СПЭЛС») представил результаты использования машинного зрения для этих задач средствами OpenCV.
Комплексный подход к разработке аппаратуры для авиационных интерфейсов был представлен в докладе Андрея Власова (ООО «Физика-Прибор»). С интересными решениями, примененными в автоматических комплексах MODULA RXI и MODULA TXI для функциональных испытаний ЭКБ (ООО «ФОРМ») ознакомил Евгений Турлаев.
Из доклада к.т.н. Александра Печенкина (АО «ЭНПО СПЭЛС») слушатели могли узнать, что отлажен подход интеграции лазерной установки в практически любую существующую (в том числе старых моделей) промышленную зондовую станцию для решения задач функциональной подгонки ИС на пластине.
Всего в течение второго дня предконференции прозвучало 24 доклада.
В заключение мероприятия координатор Предконференции «Доверенная и экстремальная электроника» Российского форума «Микроэлектроника 2024», заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ Александр Никифоров поблагодарил докладчиков, аудиторию, а также участников мероприятия, присоединившихся к нему в онлайн-формате, за проявленную активность и выразил надежду на столь же успешную работу предконференции в течение следующих двух дней.
В ходе второго дня Предконференции № 1 осуществляли свою работу два тематических блока: «Приемопередающая ЭКБ и РЭА: маршруты разработки и технологии производства» (модератор – Николай Усачёв, к.т.н.) и «Технологическое и контрольно-измерительное оборудование» (модератор – Дмитрий Бобровский, к.т.н.).
В рамках блока «Приемопередающая ЭКБ и РЭА: маршруты разработки и технологии производства» вводный доклад Николая Усачёва (НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС») был посвящен анализу рынка микроэлектроники и востребованным технологическим процессам. Было показано, что технологии КМОП 250…90 нм могут быть широко востребованы для создания устройств промышленного интернета вещей, цифровой маркировки, в том числе доверенного назначения. Также был представлен научно-технический задел дизайн-центра АО «ЭНПО СПЭЛС» по данному направлению.
Алексей Будяков (ООО «ИнноЦентр ВАО») рассказал про применение подхода к разработке простейших электронных схем с использованием доступных больших языковых моделей (БЯМ). Было показано, что БЯМ могут значительно повысить эффективность разработки ЭКБ и РЭА, но при этом допускают многочисленные ошибки и пока могут быть помощником инженера, но не заменить его. Учитывая стремительное развитие технологий искусственного интеллекта материалы доклада являются актуальными, что подтвердила живая дискуссия.
Александр Жариков (НИЯУ МИФИ) представил доклад о разработках в области автомобильной электроники, а именно системы управления подушками безопасности и телематической платформы с поддержкой V2X. Также он указал на возможности применения отечественной ЭКБ в подобных изделиях и рассмотрел некоторые вопросы обеспечения кибербезопасности встраиваемых систем.
Доклады представителей НИЯУ МИФИ / АО «ЭНПО СПЭЛС» – Дениса Сотскова, Владислава Котова, Александра Ермакова, Анны Землеруб, Константина Амбуркина были посвящены аспектам разработки и тестирования ЭКБ для радиочастотной идентификации, в том числе о проектировании аналогового тракта и организации питания меток, разработке КМОП СБИС приемопередатчика считывателя меток диапазона УВЧ, а также о проектировании тестовой оснастки (проб-карты) данной СБИС.
Живое обсуждение вызвал доклад Алексея Попова (Донской государственный технический университет), который поднял вопрос востребованности аналоговых базовых матричных кристаллов в качестве платформы быстрой разработки импортозамещающих аналоговых ИМС.
Доклады Михаила Черкашина и Артёма Коряковцева (ТУСУР) были посвящены разработке СВЧ ЭКБ, были подготовлены и представлены на высоком техническом уровне.
Актуальным для слушателей был доклад Сергея Яна (АО «Светлана-Полупроводники»), посвященный созданию отечественного RISC-процессора, ориентированного для изготовления по технологии КМОП 350 нм.
Блок «Технологического и контрольно-измерительного оборудования» открыли два системообразующих доклада АО «МНТЦ МИЭТ», раскрывающие потребность комплексной программы электронного машиностроения в части оборудования (Яков Петренко) и функциональных материалов (к.ф.-м.н. Вадим Ежлов).
Денис Веселов представил намерения ООО «Нанотроника» (входит в ГК «Элемент») выступить лидером в организации серийного производства технологического оборудования.
В докладах представителей двух предприятий-исполнителей ОКР по разработке оборудования для электронного машиностроения (к.т.н. Дмитрий Бобровский, АО «ЭНПО СПЭЛС» и Андрей Писаренко, АО «НИИП») представлен успешный опыт выполнения этапов ОКР. Коллеги обозначили болевые вопросы применения отечественных комплектующих в своих разработках, призвав разработчиков комплектующих не бояться вносить свою продукцию в каталоги, хотя бы уровня «Каталог продукции ГИСП» без получения заключения Минпромторга России.
Безусловно, в блоке по оборудованию невозможно было бы обойти стороной вопросы практического применения систем машинного зрения, в частности для визуального контроля дефектов кристаллов. В своем докладе Артем Цирков (Консорциум «ДЭЭС» НИЯУ МИФИ –АО «ЭНПО СПЭЛС») представил результаты использования машинного зрения для этих задач средствами OpenCV.
Комплексный подход к разработке аппаратуры для авиационных интерфейсов был представлен в докладе Андрея Власова (ООО «Физика-Прибор»). С интересными решениями, примененными в автоматических комплексах MODULA RXI и MODULA TXI для функциональных испытаний ЭКБ (ООО «ФОРМ») ознакомил Евгений Турлаев.
Из доклада к.т.н. Александра Печенкина (АО «ЭНПО СПЭЛС») слушатели могли узнать, что отлажен подход интеграции лазерной установки в практически любую существующую (в том числе старых моделей) промышленную зондовую станцию для решения задач функциональной подгонки ИС на пластине.
Всего в течение второго дня предконференции прозвучало 24 доклада.
В заключение мероприятия координатор Предконференции «Доверенная и экстремальная электроника» Российского форума «Микроэлектроника 2024», заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники НИЯУ МИФИ Александр Никифоров поблагодарил докладчиков, аудиторию, а также участников мероприятия, присоединившихся к нему в онлайн-формате, за проявленную активность и выразил надежду на столь же успешную работу предконференции в течение следующих двух дней.
Комментарии читателей
